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日本KITA 半導體PCB 檢查的彈簧探針標準型

  • 產(chǎn)品型號:K-026-2CA
  • 更新時間:2025-04-22

簡要描述:日本KITA 半導體PCB 檢查的彈簧探針標準型K-026-2CAK2系列是KITA公司針對PCB(印刷電路板)測試(如ICT、FCT)設計的標準彈簧探針(Test Probe).
以高耐久性、穩(wěn)定接觸電阻和緊湊結構為特點,廣泛應用于電子制造領域的測試環(huán)節(jié)。

產(chǎn)品詳情

深圳納加霍里科技專業(yè)代理銷售日本KITA 半導體PCB 檢查的彈簧探針標準型)K-026-2CA 產(chǎn)品特點如下:

日本KITA 半導體PCB 檢查的彈簧探針標準型K-026-2CA 擁有多種用于電路板檢測的彈簧探針,從裸板測試到 ICT。除了彈簧探針的形狀和總長度的變化之外

PCB(印刷電路板)測試(如ICT、FCT)設計的標準彈簧探針(Test Probe),以高耐久性、穩(wěn)定接觸電阻和緊湊結構為特點,廣泛應用于電子制造領域的測試環(huán)節(jié)。

核心特性

結構設計

三件式結構:針管(Barrel)、彈簧(Spring)、針頭(Plunger)組成,內(nèi)部彈簧提供穩(wěn)定接觸壓力。

鍍金層:關鍵部位鍍金(如針頭),確保低接觸電阻(通常<50mΩ)和抗氧化性。

緊湊尺寸:直徑范圍常見為0.5mm~2.0mm,適合高密度PCB布局測試。

電氣性能

額定電流:1A~3A(視具體型號),電壓通常低于50V。

接觸電阻穩(wěn)定性:反復插拔后電阻變化率低,保障測試準確性。

機械耐久性

壽命:典型值10萬~50萬次插拔(依據(jù)負載和環(huán)境條件)。

行程范圍:1.0mm~5.0mm(如K2-15系列行程3.0mm),提供彈性緩沖避免PCB損傷。

兼容性

適配多種測試治具(Fixture),如日本品牌(如JEMIC)或國際標準接口。

K-026-2CA 型號關鍵特性

基本結構

屬于K2系列標準三件式彈簧探針(針管+彈簧+針頭),專為PCB測試(如ICT/FCT)設計。

鍍金接觸部分:確保低接觸電阻(典型值<30mΩ)和抗氧化,適合精密測試。

尺寸參數(shù)

外徑:可能為 1.5mm~2.0mm(參考K2系列常見尺寸)。

行程:預計 2.0mm~3.0mm(提供適度彈性緩沖,避免PCB損傷)。

總長:約 20mm~26mm(型號中的“026"可能暗示總長26mm)。

電氣性能

額定電流:約 1A~2A標準K2系列范圍)。

電壓范圍:DC/AC 50V以下。

機械性能

壽命:預計 50,000~100,000次 插拔(依賴負載和操作環(huán)境)。

彈簧力:中等壓力(如100gf~300gf),平衡接觸可靠性與PCB保護。

應用場景

ICT測試:檢測PCB開路、短路、元件焊接缺陷。

FCT測試:功能驗證,需穩(wěn)定接觸供電和信號傳輸。

高頻測試:部分型號支持高頻信號(需選低電感設計變種)。

典型型號與參數(shù)示例

型號示例直徑(mm)行程(mm)額定電流壽命(次)
K2-101.02.51A100,000
K2-201.53.02A200,000
K2-302.05.03A50,000

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